Automatic test generation system for VLSI
autor
Jervan, Gert
Markus, Antti
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
G. Jervan, A. Markus, J. Raik, R. Ubar
allikas
Proceedings of the First Electronic Circuits and Systems Conference : Bratislava, Slovakia, September 4-5, 1997
ilmumiskoht
[S.l.]
ilmumisaasta
1997
leheküljed
p. 255-258
konverentsi nimetus, aeg
First Electronic Circuits and Systems Conference, September 4-5, 1997
konverentsi toimumispaik
Bratislava, Slovakia
märksõna
VLSI-ahelad
testid
testimine
keel
inglise