Combinational fault simulation in sequential circuits
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kõusaar, Jaak
Gorev, Maksim
Devadze, Sergei
vastutusandmed
Raimund Ubar, Jaak Kõusaar, Maksim Gorev, Sergei Devadze
allikas
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : 24-27 May 2015, Lisboa, Portugal : [proceedings]
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 2876-2879 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 24-27 May, 2015
konverentsi toimumispaik
Lisboa, Portugal
leitav
https://doi.org/10.1109/ISCAS.2015.7169287
märksõna
elektronlülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
kompuutersimulatsioon
algoritmid
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/56190
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84946223399&origin=inward&txGid=6955ad8431487055d89ab5316f7fd94c
WOS
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000371471003040
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
võtmesõna
sequential circuits
stuck-at-faults
design for testability
fault simulation with critical path tracing
ISSN
0271-4310
ISBN
978-1-4799-8391-9
märkused
Bibliogr.: 16 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise