Design error localization in digital circuits by stuck-at fault test patterns
autor
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
A.Jutman, R.Ubar
allikas
[MIEL] 2000 : 22nd International Conference on Microelectronics : Niš, Yugoslavia, 14-17 May 2000 : proceedings. Volume 2
ilmumiskoht
[S. l.]
kirjastus/väljaandja
Electron Devices Society
ilmumisaasta
2000
leheküljed
p. 723-726
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/838792
märksõna
disain
vead
testid
rikked
ISBN
0-7803-5235-1
märkused
Bibliogr.: 10 ref
keel
inglise