SEU study of wideband heterostructure diode for particle detection
autor
Patankar, Udayan Sunil
Koel, Ants
vastutusandmed
Udayan Sunil Patankar, Ants Koel
allikas
2021 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE)
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2021
leheküljed
4 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
ICCE-2021 IEEE International Conference on Consumer Electronics, CES, January 10-12, 2021
konverentsi toimumispaik
Las Vegas, NV, USA
leitav
https://doi.org/10.1109/ICCE50685.2021.9427613
märksõna
jõuelektroonika
karbiidid
dioodid
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/26010
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85106001116&origin=inward&txGid=213c070857afd99405ffe0aa33165574
WOS
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000675600200033
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Engineering. Industrial and manufacturing engineering
Tehnika. Tööstus- ja tootmistehnika
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
võtmesõna
Silicon Carbide (SiC)
Single Event Upset (SEU)
Wideband
Diode
Power Electronics
ISSN
2158-4001
ISBN
978-1-7281-9766-1
märkused
Bibliogr.: 30 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Kognitiivelektroonika kiiplaborite uurimisgrupp
Kognitroonika teaduslabor