Degragation of 600-V 4H-SiC Schottky diodes under irradation with 0,9 MeV electrons
                                            autor
                                    
                                    
Davydovskaja, K. S.
                                                    
                                                    
                                                    
                                                    
                                                    
                                            
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
A.A. Lebedev, K.S. Davydovskaya, V.V. Kozlovski, O.M. Korolkov, N.S. Sleptšuk, J. Toompuu
                                                    
                                            
                                            ilmumiskoht
                                    
                                    
[S.l.]
                                                    
                                            
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
p. 49
                                                    
                                            
                                            konverentsi nimetus, aeg
                                    
                                    
11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials ECSCRM 2016, September 25-29, 2016
                                                    
                                            
                                            konverentsi toimumispaik
                                    
                                    
Halkidiki, Greece
                                                    
                                            
                                            TTÜ struktuuriüksus
                                    
                                    
                                
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                                            märksõna
                                    
                                    
                                
                                            võtmesõna
                                    
                                    
                            Lebedev, A., Davydovskaya, K., Kozlovski, V., Korolkov, O., Sleptšuk, N., Toompuu, J. Degragation of 600-V 4H-SiC Schottky diodes under irradation with 0,9 MeV electrons // 11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials : September 25-29, 2016, Porto Carras Grand Resort, Halkidiki, Greece : [poster session]. [S.l.], 2016. p. 49.