Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний
autor
Budarin, Vladimir
Rätsep, Ülo
Teevet, J.-T.
vastutusandmed
В.Н. Бундарин, Ю.П. Рятсеп, Дж.-Т.Э. Тээвет
allikas
Методы и средства цифровой обработки сигналов
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1984
leheküljed
с. 111-115
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582
Радиотехника ; 10
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 582
Труды ТПИ ; 582
leitav
https://www.ester.ee/record=b1302208*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/e49ece5a-b726-4a2f-860f-748b84670a0c
märksõna
integraallülitused
kvaliteet
prognostika
klastrid
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
0320-3441
märkused
Библиогр. : 4 назв
Summary: Integrated circuits quality prediction on the basis of condition clusters
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.2
TTÜ struktuuriüksus
raadiotehnika kateeder
keel
vene