Accurate NBTI-induced gate delay modeling based on intensive SPICE simulations
autor
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, ... [et al.]
allikas
MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
COST
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 21-26 : ill
konverentsi nimetus, aeg
Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale, MEDIAN Finale, November 10-11, 2015
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
märksõna
transistorid
pooljuhtseadised
materjalide vananemine
kompuutermodelleerimine
kompuutersimulatsioon
võtmesõna
Negative Bias Temperature Instability (NBTI)
aging
gate delay
predictive model
SPICE
märkused
Bibliogr.: 15 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise