Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
autor
Jervan, Gert
Kruus, Helena
Orasson, Elmet
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Gert Jervan, Helena Kruus, Elmet Orasson, Raimund Ubar
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
[Tallinna Tehnikaülikool]
ilmumisaasta
2007
leheküljed
lk. 133-136 : ill
märksõna
digitaaltehnika
testimine
ISBN
978-9985-59-700-2
märkused
Bibliogr.: 17 nim
keel
inglise