Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the properties of the interface
autor
Kropman, Daniel
Mellikov, Enn
Öpik, Andres
Lott, Kalju
Kärner, T.
Heinmaa, I.
Laas, Tõnu
Medvid, A.
Skroupa, W.
Prucnal, S.
Rebohle, L.
Zvyagin, S.
Cizmar, E.
Ozerov, M.
Wosnitsa, J.
vastutusandmed
D.Kropman, E.Mellikov, A.Öpik, K.Lott, T.Kärner, I.Heinmaa, T.Laas, A.Medvid, W.Skroupa, S.Prucnal, L.Rebohle, S.Zvyagin, E.Cizmar, M.Ozerov, J.Wosnitsa
allikas
Thin solid films
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 518
ilmumisaasta
2010
leheküljed
9, p. 2374-2376
leitav
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0040609009014564
märksõna
õhukesed kiled
tuumamagnetresonants
magnetresonants
ISSN
0040-6090
keel
inglise