Подготовка напряженных хрупких образцов полупроводниковых материалов для просвечивающей электронной микроскопии

vastutusandmed
Б.Л. Мейлер
ilmumiskoht
Таллин
ilmumisaasta
leheküljed
с. 44-48 : ил
ISSN
0136-3549
0136-3581
märkused
Библиогр. : 3 назв
Abstract: Preparation of strained fragile semiconducting materials for transmission electron microscopy
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.2
TTÜ struktuuriüksus
keel
vene