High-speed logic level fault simulation
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Devadze, Sergei
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Devadze
allikas
Design and test technology for dependable systems-on-chip
ilmumiskoht
Hershey
kirjastus/väljaandja
Information Science Reference
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 310-335 : ill
leitav
https://www.igi-global.com/chapter/high-speed-logic-level-fault/51407
märksõna
rikked
simulatsioon
loogikaelemendid
ISBN
978-1-60960-212-3
märkused
Bibliogr. p. 332-334
keel
inglise