Special session: in-field ML-assisted intermittent fault localization and management in RISC-V SoCs
autor
Selg, Hardi
Shibin, Konstantin
Tsertov, Anton
Jenihhin, Maksim
Ellervee, Peeter
Raik, Jaan
vastutusandmed
Hardi Selg, Konstantin Shibin, Anton Tsertov, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee, Jaan Raik
allikas
2024 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
ilmumiskoht
Los Alamitos, California
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2024
konverentsi nimetus, aeg
37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2024, 8-10 October 2024
konverentsi toimumispaik
Didcot
leitav
https://doi.org/10.1109/DFT63277.2024.10753541
märksõna
tehisõpe
vead
mikroprotsessorid
tehisnärvivõrgud
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/21101123252
https://www.scopus.com/pages/publications/85212426533?inward
WOS
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:001448004400020
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
Computer science
Arvutiteadus
kategooria (alam)
Engineering. Safety, risk, reliability and quality
Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet
Computer science. Signal processing
Arvutiteadus. Signaalitöötlus
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Computer science. Hardware and architecture
Arvutiteadus. Riistvara ja arhitektuur
võtmesõna
fault localization
fault management
machine learning
neural architecture search
processor architecture
ISSN
2576-1501
ISBN
979-835036688-4
märkused
Bibliogr.: 13 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise