Keynote: cost-efficient reliability for Edge-AI chips

vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Mahdi Taheri, Natalia Cherezova, Mohammad Hasan Ahmadilivani, Hardi Selg, Artur Jutman
allikas
2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS)
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
konverentsi nimetus, aeg
25th IEEE Latin American Test Symposium, LATS 2024, 9-12 April 2024
konverentsi toimumispaik
Maceio, Brazil
võtmesõna
AxC
DNNs
edge AI
HW accelerators
reliability assessment and enhancement
ISBN
979-835036555-9
märkused
Bibliogr.: 13 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise