APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errors
autor
Taheri, Mahdi
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Daneshtalab, Masoud
vastutusandmed
Mahdi Taheri, Mohammad Hasan Ahmadilivani, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Masoud Daneshtalab
allikas
26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, May 3-5, 2023, Tallinn
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2023
leheküljed
p. [?]
konverentsi nimetus, aeg
26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, May 3-5, 2023
konverentsi toimumispaik
Tallinn
leitav
https://ddecs2023.taltech.ee/
märksõna
arvutisüsteemid
tõrketaluvus
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise