kompaktne vaade prindi

On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks

autor
Damljanovic, Aleksa
Squillero, Giovanni
Gürsoy, Cemil Cem
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Aleksa Damljanovic, Giovanni Squillero, Cemil Cem Güursoy, Maksim Jenihhin
allikas
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
p. 335-340 : ill
konverentsi nimetus, aeg
27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, October 6-9, 2019
konverentsi toimumispaik
Cusco, Peru
leitav
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313
märksõna
nanoelektroonika
rikked
võtmesõna
IJTAG
NBTI
aging
mitigation
ISSN
2324-8440
2324-8432
ISBN
978-1-7281-3915-9
978-1-7281-3916-6
märkused
Bibliogr.: 22 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Damljanovic, A., Squillero, G., Gürsoy, C. C., Jenihhin, M. On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks // VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]. Piscataway : IEEE, 2019. p. 335-340 : ill. https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313