Automated correction of design errors by edge redirection on high-level decision diagrams
autor
Karputkin, Anton
Ubar, Raimund-Johannes
Tombak, Mati
Raik, Jaan
vastutusandmed
Anton Karputkin, Raimund Ubar, Mati Tombak, Jaan Raik
allikas
13th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2012
leheküljed
p. 686-693 : ill
konverentsi nimetus, aeg
13th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), March 19-21, 2012
konverentsi toimumispaik
Santa Clara, CA, USA
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/6113980
märksõna
digitaaltehnika
keerukusteooria
testimine
generaatorid
nanoelektroonika
otsustusdiagrammid
ISSN
1948-3287
ISBN
978-1-4673-1034-5
märkused
Bibliogr.: 18 ref
keel
inglise