Assembling low-level tests to high-level symbolic test frames
autor
Jervan, Gert
Markus, Antti
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
G.Jervan, A.Markus, J.Raik, R.Ubar
allikas
Proceedings [of the] 15th NORCHIP Conference, Tallinn, 10-11 November 1997
ilmumiskoht
[Copenhagen]
ilmumisaasta
1997
leheküljed
p. 275-280: ill
märksõna
testid
testimine
märkused
Tiitellehel: ... 15th NORCHIP Seminar. Bibl. 6 ref
keel
inglise