kompaktne vaade prindi

Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits

autor
Kostin, Sergei
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
vastutusandmed
Sergei Kostin, Raimund Ubar, Jaan Raik
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]
ilmumisaasta
2010
leheküljed
lk. 53-56 : ill
konverentsi nimetus, aeg
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljas aastakonverents, 26.-27. novembril 2010
konverentsi toimumispaik
Essu mõis
märksõna
digitaalintegraallülitused
diagnostika (tehnika)
ISBN
978-9949-23-044-0
märkused
Bibliogr.: 18 nim
keel
inglise
Kostin, S., Ubar, R., Raik, J. Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus], 2010. lk. 53-56 : ill.