Comparison of curvature and X-Ray methods for measuring of residual stresses in hard PVD coatings
autor
Lille, Harri
Kõo, Jakub
Gregor, Andre
Ryabchikov, Alexander
Sergejev, Fjodor
Traksmaa, Rainer
Kulu, Priit
vastutusandmed
Harri Lille, Jakub Kõo, Andre Gregor, Alexander Ryabchikov, Fjodor Sergejev, Rainer Traksmaa, Priit Kulu
allikas
Materials science forum
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 681, Residual Stresses VIII
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 455-460
seeria-sari
Materials Science Forum
märksõna
kattematerjalid
pindamine
õhukesed kiled
röntgenikiirgus
difraktsioon
võtmesõna
curvature method
nc-(AlTi) N/a-Si3N4
PVD coating
thin film
TiAlN
TiCN
TiN
X-Ray Diffraction (XRD)
ISSN
1662-9752
keel
inglise