DLTS measurements on 4H-SiC JBS-diodes with boron implanted local p-n junctions

vastutusandmed
Pavel Ivanov, Oleg Korolkov, Tatyana Samsonova, Natalja Sleptsuk, Alexander Potapov, Jana Toompuu, Toomas Rang
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 679/680, Silicon Carbide and Related Materials 2010
ilmumisaasta
leheküljed
p. 409-412
konverentsi nimetus, aeg
Silicon Carbide and Related Materials 2010
võtmesõna
deep level
DLTS measurements
keel
inglise