CMOS defects analysis using DefSim measurement environment
autor
Pleskacz, Witold A.
Borejko, Tomasz
Walkanis, A.
Stopjakova, Viera
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
W.A.Pleskacz, T.Borejko, A.Walkanis, V.Stopjakova, A.Jutman, R.Ubar
allikas
Informal Digest of Papers : Eleventh IEEE European Test Symposium : ETS 2006 : 21-24 May 2006, Southampton, United Kingdom
ilmumiskoht
Southampton
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 241-246 : ill
märksõna
arvutisüsteemid
defektid
mõõtmine
disain
märkused
Bibliogr.: 12 ref
keel
inglise