Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing
autor
Bagbaba, Ahmet Cagri
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Sauer, Christian
vastutusandmed
Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Christian Sauer
allikas
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
7 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019
konverentsi toimumispaik
Helsinki, Finland
leitav
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932
märksõna
rikked
tõrketaluvus
kompuutersimulatsioon
töökindlus
ohutus
võtmesõna
fault injection
fault simulation
functional safety
transient faults
ISO26262
RTL
CPU
ISBN
978-1-7281-2769-9
märkused
Bibliogr.: 24 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus