Virtual reconfigurable scan-chains on FPGAs for optimized board test
autor
Aleksejev, Igor
Jutman, Artur
Devadze, Sergei
Shibin, Konstantin
vastutusandmed
Igor Aleksejev, Sergei Devadze, Artur Jutman, Konstantin Shibin
allikas
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2015
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
16th Latin American Test Symposium, 25-27 March, 2015
konverentsi toimumispaik
Puerto Vallarta, Mexico
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102411
märksõna
väliprogrammeeritav loogika
katseseadmed
diagnostika (tehnika)
võtmesõna
boundary scan
reconfigurable scan-chain
ISSN
2373-0862
ISBN
978-1-4673-6711-0
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise