On using genetic algorithm for test generation
autor
Brik, Marina
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Ivask, Eero
vastutusandmed
M.Brik, J.Raik, R.Ubar, E.Ivask
allikas
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2004
leheküljed
p. 233-236 : ill
märksõna
testimine
geneetilised algoritmid
ISBN
9985-59-462-2
märkused
Bibliogr.: 8 ref
keel
inglise