Effect of ultrasonic treatment on the defect structure of the Si-SiO2 system
autor
Kropman, Daniel
Seeman, Viktor
Dolgov, Sergei
Medvids, Arturs
vastutusandmed
D. Kropman, V. Seeman, S. Dolgov, A. Medvids
allikas
Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics
kirjastus/väljaandja
Wiley-VCH
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 13, 10-12
ilmumisaasta
2016
leheküljed
p. 793 - 797
leitav
https://doi.org/10.1002/pssc.201600052
märksõna
ultrahelitöötlus
ränidioksiid
metalloksiidid
liidesed
diagnostika (tehnika)
defektoskoopia
võtmesõna
defect structure
ESR
Si-SiO2 interface
ultrasonic treatment
ISSN
1862-6351
märkused
Bibliogr.: 14 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/4700152710
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84992646936&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sid=50973f8aeb3d1c19e096d56f835e7904&sot=b&sdt=b&s=DOI%2810.1002%2Fpssc.201600052%29&sl=35&sessionSearchId=50973f8aeb3d1c19e096d56f835e7904&relpos=0
WOS
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000399448900018
kategooria (üld)
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
kategooria (alam)
Physics and astronomy. Condensed matter physics
Füüsika ja astronoomia. Kondenseeritud aine füüsika
kvartiil
Q3
TTÜ struktuuriüksus
materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut
keel
inglise