Электрофизические свойства тонкопленочных барьеров шоттки на основе сульфида кадмия, изготовленного методом химической пульверизации
autor
Krunks, Malle
Mellikov, Enn
Seilenthal, Mats
vastutusandmed
М.И. Крункс, Э.Я. Мелликов, М.И. Сейлентхал
allikas
Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1986
leheküljed
с. 49-55 : ил
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620
Полупроводниковые материалы ; 7
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 620
Труды ТПИ ; 620
leitav
https://www.ester.ee/record=b1296001*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/65e24755-71eb-4a99-b9fe-e1308121ed89
märksõna
kaadmiumsulfiid
õhukesed kiled
pihustamine
Schottky barjäär
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
0320-3395
märkused
Библиогр. : 6 назв
Abstract: Electrophysical properties of cadmium sulphide thin film Schottky barriers manufactured by chemical spray deposition
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.2
TTÜ struktuuriüksus
füüsika kateeder
keel
vene