Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems

vastutusandmed
G.Jervan, H.Kruus, E.Orasson, R.Ubar
allikas
Proceedings of the IEEE 2nd International Symposium on Industrial Embedded Systems : SIES'2007 : Lisbon, Portugal, 4-6 July 2007
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 71-77