Application of sequential test set compaction to LFSR reseeding
autor
Aleksejev, Igor
Jutman, Artur
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 102-107 : ill
konverentsi nimetus, aeg
26th Norchip Conference, 17-18 November, 2008
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738292
märksõna
pooljuhtseadised
testimine
ISBN
978-1-4244-2492-4
märkused
Bibliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise