Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
autor
Cibakova, Tatiana
Fischerova, Maria
Gramatova, Elena
Kuzmicz, W.
Pleskacz, Witold A.
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
T.Cibakova, M.Fischerova, E.Gramatova, W.Kuzmicz, W.A.Pleskacz, J.Raik, R.Ubar
allikas
Microelectronics reliability
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 42, 7
ilmumisaasta
2002
leheküljed
p. 1141-1149 : ill
leitav
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S002627140200080X
märksõna
elektriahelad
testimine
defektid
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 25 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise