Testability guided hierarchical test generation with decision diagrams
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Nõmmeots, Tanel
vastutusandmed
R.Ubar, J.Raik, T.Nõmmeots
allikas
20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 2002
ilmumiskoht
Copenhagen
kirjastus/väljaandja
TechnoData
ilmumisaasta
2002
leheküljed
p. 265-271
leitav
https://www.semanticscholar.org/paper/Testability-Guided-Hierarchical-Test-Generation-Ubar-Raik/c6301ac35d003c92f3867f26e2e75b87e1ad9b47
märksõna
digitaalintegraallülitused
testimine
kvaliteeditestid
otsustusteooria
otsustusdiagrammid
keel
inglise