Testing technique for embedded ADC
autor
Zagursky, V.
Gertners, A.
vastutusandmed
V.Zagursky, A.Gertners
allikas
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
1998
leheküljed
p. 167-170: ill
märksõna
analoog-digitaal muundurid
manussüsteemid
testimine
ISBN
9985-59-081-3
märkused
Bibl.: 6 ref
keel
inglise