prindi

Efficient at-speed interconnect BIST and diagnosis framework

autor
Jutman, Artur
vastutusandmed
Artur Jutman
allikas
Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
[Tallinn University of Technology]
ilmumisaasta
2005
leheküljed
p. 257-258 : ill
leitav
https://artiklid.elnet.ee/record=b1018804*est
märksõna
elektronlülitused
testimine
diagnostika (tehnika)
märkused
Bibliogr.: 8 ref
keel
inglise
Jutman, A. Efficient at-speed interconnect BIST and diagnosis framework // Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005. [Tallinn] : [Tallinn University of Technology], 2005. p. 257-258 : ill. https://artiklid.elnet.ee/record=b1018804*est