Efficient at-speed interconnect BIST and diagnosis framework
                                            autor
                                    
                                    
                                
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
Artur Jutman
                                                    
                                            
                                            allikas
                                    
                                    
                                
                                            ilmumiskoht
                                    
                                    
[Tallinn]
                                                    
                                            
                                            kirjastus/väljaandja
                                    
                                    
                                
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
p. 257-258 : ill
                                                    
                                            
                                            märkused
                                    
                                    
Bibliogr.: 8 ref
                                                    
                                            
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                            Jutman, A. Efficient at-speed interconnect BIST and diagnosis framework // Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005. [Tallinn] : [Tallinn University of Technology], 2005. p. 257-258 : ill.