Test cost minimization for hybrid BIST
autor
Jervan, Gert
Peng, Zebo
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Gert Jervan, Zebo Peng, Raimund Ubar
allikas
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos, CA
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2000
leheküljed
p. 283-298 : ill
ISBN
0-7695-0719-0
märkused
Bibliogr.: 8 ref