Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits
autor
Skobtsov, Y.A.
Ivanov, D.E.
Skobtsov, V.Y.
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Y.A.Skobtsov, D.E.Ivanov, V.Y.Skobtsov, R.Ubar
allikas
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2004
leheküljed
p. 229-232 : ill
märksõna
digitaalintegraallülitused
testimine
geneetilised algoritmid
ISBN
9985-59-462-2
märkused
Bibliogr.: 5 ref
keel
inglise