Design and test technology for dependable systems-on-chip
toimetaja
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Vierhaus, Heinrich Theodor
vastutusandmed
[editors] Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus
ilmumiskoht
Hershey
kirjastus/väljaandja
Information Science Reference
ilmumisaasta
2011
leheküljed
550 p. : ill
leitav
https://www.ester.ee/record=b4467408*est
märksõna
integraallülitused
digitaalintegraallülitused
kiipvõrgud
mikroprotsessortehnika
projekteerimine
süsteemide projekteerimine
testimine
tõrketaluvus
mikroelektroonika
ISBN
978-1-60960-212-3
keel
inglise