High-level decision diagrams based coverage metrics for verification and test
autor
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Tšepurov, Anton
Reinsalu, Uljana
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Anton Chepurov, Uljana Reinsalu, Raimund Ubar
allikas
LATW 2009 : 10th IEEE Latin American Test Workshop : Buzios, Rio de Janero, Brazil, March 2-5, 2009
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2009
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
10th IEEE Latin American Test Workshop, 2-5 March, 2009
konverentsi toimumispaik
Rio de Janero, Brazil
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2009.4813792
märksõna
integraallülitused
digitaalsidud
testimine
otsustusdiagrammid
ISBN
978-1-4244-4206-5
märkused
Bibliogr.: 10 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise