Simple relationship between the breakdown voltage, concentration and junction depth pn diffused junctions
                                            autor
                                    
                                    
                                
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
T. Rang
                                                    
                                            
                                            kirjastus/väljaandja
                                    
                                    
                                
                                            ajakirja aastakäik number kuu
                                    
                                    
vol. 72, no. 1, July
                                                    
                                            
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
p. K117-K119 : tab., joon
                                                    
                                            
                                            märkused
                                    
                                    
Bibliogr.: 13 nim.
                                                    
                                            
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                                            TTÜ struktuuriüksus
                                    
                                    
                                
                            Rang, T. Simple relationship between the breakdown voltage, concentration and junction depth pn diffused junctions // Physica status solidi. A, Applied research (1982) vol. 72, no. 1, July, p. K117-K119 : tab., joon.  https://www.ester.ee/record=b1562026*est