Correlation between the UV-reflectance spectra and the structure of poly-Si films obtained by aluminium induced crystallization
autor
Dimova-Malinovska, D.
Angelov, O.
Sendova-Vassileva, M.
Mikli, Valdek
vastutusandmed
D.Dimova-Malinovska, O.Angelov, M.Sendova-Vassileva, V.Mikli
allikas
Journal of optoelectronics and advanced materials
ajakirja aastakäik number kuu
11
ilmumisaasta
2009
leheküljed
9, p. 1079-1085
leitav
https://www.researchgate.net/publication/288122478_Correlation_between_the_UV-reflectance_spectra_and_the_structure_of_poly-Si_films_obtained_by_Aluminium_Induced_Crystallization
märksõna
kiled
räni
struktuur
optilised omadused
Ramani spektroskoopia
röntgenspektroskoopia
difraktsioon
kristallisatsioon
ISSN
1454-4164
keel
inglise