Исследование миграции примеси меди в монокристаллах сульфида кадмия

vastutusandmed
Х.А. Аарна, Э.К. Рейтер
ilmumiskoht
Таллин
ilmumisaasta
leheküljed
с. 43-48 : ил
ISSN
0136-3549
0320-3395
märkused
Библиогр. : 11 назв
Abstract: The study of copper impurity migration in cadmium sulfide single crystals
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
vene
Аарна, Х.А., Рейтер, Э.К. Исследование миграции примеси меди в монокристаллах сульфида кадмия // Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1986. с. 43-48 : ил. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620, Полупроводниковые материалы ; 7). https://www.ester.ee/record=b1296001*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/65e24755-71eb-4a99-b9fe-e1308121ed89