Nanoelectronics aging mitigation using SSBDD based techniques and dedicated sensors
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Vargas, Fabian
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Raimund Ubar, Fabian Luis Vargas, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
MEDIAN Workshop on Circuit Reliability : Modeling and Monitoring, Rome, Italy, February 25, 2013
ilmumiskoht
[S.l.]
ilmumisaasta
2013
leheküljed
[1] p
konverentsi nimetus, aeg
MEDIAN Workshop on Circuit Reliability: Modeling and Monitoring, February 25, 2013
konverentsi toimumispaik
Rome, Italy
märksõna
nanoelektroonika
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise