Fast RTL fault simulation using decision diagrams and bitwise set operations
autor
Reinsalu, Uljana
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Ellervee, Peeter
vastutusandmed
Uljana Reinsalu, Jaan Raik, Raimund Ubar, Peeter Ellervee
allikas
2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 3-5 October 2011, Vancouver, Canada
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 164-170
konverentsi nimetus, aeg
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 3-5 October 2011
konverentsi toimumispaik
Vancouver, Canada
võtmesõna
register-transfer level
fault simulation
high-level decision diagrams
ISSN
1550-5774
ISBN
978-1-4577-1713-0
märkused
Bibliogr.: 14 ref
keel
inglise