Shen, Y., Chub, A., Wang, H., Vinnikov, D., Liivik, E., Blaabjerg, F.

prindi

Wear-out failure analysis of an impedance-source PV microinverter based on system-level electrothermal modeling

autor

Shen, Yanfeng

Chub, Andrii

Wang, Huai

Vinnikov, Dmitri

Liivik, Elizaveta

Blaabjerg, Frede

vastutusandmed

Yanfeng Shen, Andrii Chub, Huai Wang, Dmitri Vinnikov, Elizaveta Liivik, Frede Blaabjerg

allikas

IEEE transactions on industrial electronics

kirjastus/väljaandja

IEEE

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 66, 5

ilmumisaasta

2019

leheküljed

p. 3914-3927

leitav

https://doi.org/10.1109/TIE.2018.2831643

märksõna

inverterid

töökindlus

kulumine (tehnika)

modelleerimine (teadus)

võtmesõna

electrothermal modeling

photovoltaic (PV) microinverter (MI)

reliability

wear-out

ISSN

0278-0046

märkused

Bibliogr.: 61 ref

Open Access

teaduspublikatsioon

klassifikaator

1.1

Scopus

Journal metrics at Scopus

Article at Scopus

WOS

Journal metrics at WOS

Article at WOS

kategooria (üld)

Tehnika

kategooria (alam)

Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika

Tehnika. Juhtimis- ja süsteemitehnika

kvartiil

TTÜ struktuuriüksus

elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut

keel

inglise

Uurimisrühm

Jõuelektroonika uurimisrühm

Shen, Y., Chub, A., Wang, H., Vinnikov, D., Liivik, E., Blaabjerg, F. Wear-out failure analysis of an impedance-source PV microinverter based on system-level electrothermal modeling // IEEE transactions on industrial electronics (2019) vol. 66, 5, p. 3914-3927. https://doi.org/10.1109/TIE.2018.2831643