DSP-based electrical impedance tomography device: implementation and experiments

vastutusandmed
Anar Abdullayev, Marek Rist, Margus Metshein, Olev Martens
allikas
2025 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
6 p
konverentsi nimetus, aeg
IEEE I2MTC – International Instrumentation and Measurement Technology Conference, 19-22 May 2025
konverentsi toimumispaik
Chemnitz, Germany
võtmesõna
electrical impedance tomography (EIT)
ISSN
2642-2069
ISBN
979-8-3315-0501-1
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
keel
English
Inglise