Exploration of Activation Fault Reliability in Quantized Systolic Array-Based DNN Accelerators
autor
Taheri, Mahdi
Cherezova, Natalia
Ansari, Mohammad Saeed
Jenihhin, Maksim
Mahani, Ali
Daneshtalab, Masoud
Raik, Jaan
vastutusandmed
Mahdi Taheri, Natalia Cherezova, Mohammad Saeed Ansari, Maksim Jenihhin, Ali Mahani, Masoud Daneshtalab, Jaan Raik
allikas
25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2024
leheküljed
8 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 3 April 2024 – 5 April 2024
konverentsi toimumispaik
San Francisco, California, United States
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=10528372
https://doi.org/10.1109/ISQED60706.2024.10528372
märksõna
riistvara
rikked
tehisnärvivõrgud
tehisõpe
kiirendid
efektiivsus
töökindlus
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/21100205716
https://www.scopus.com/pages/publications/85192830380?inward
WOS
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:001229692400008
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Engineering. Safety, risk, reliability and quality
Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Computer science. Hardware and architecture
Arvutiteadus. Riistvara ja arhitektuur
võtmesõna
deep neural networks
design space exploration
quantization
fault simulation
reliability assessment
ISBN
979-835030927-0
märkused
Bibliogr.: 29 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise