Hierarchical test generation for digital circuits represented by Decision Diagrams : thesis on informatics and system engineering

autor
Raik, Jaan
juhendaja
autor juhendaja
vastutusandmed
Jaan Raik ; [supervisor Raimund Ubar]
dissertatsiooni liik
doktoritöö
ülikool/teadusasutus
Tallinna Tehnikaülikool
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
TTU Press
ilmumisaasta
2001
leheküljed
108, [15] p. : ill
seeria-sari
Theses of Tallinn Technical University. C, Thesis on informatics and system engineering, ISSN 1406-4731 ; 8
märksõna
digitaalintegraallülitused
kvaliteeditestid
otsustusteooria
algoritmid
vormimärksõna
dissertatsioonid
ISBN
9985-59-249-2
märkused
List of publications: 63 ref. Bibliogr. p. 103-108. Thesis (Dr. of Science in Computer Engineering) : Tallinn Technical University, 2001
Raik, Jaan, 1972-
Ubar, Raimund, 1941-
Pealkirja tõlge: Hierarhiline testigenereerimine digitaalskeemide otsustusdiagrammide mudelil
leitav
https://www.ester.ee/record=b1578107*est
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise