Sequential test set compaction in LFSR reseeding
autor
Jutman, Artur
Aleksejev, Igor
Raik, Jaan
vastutusandmed
Artur Jutman, Igor Aleksejev, Jaan Raik
allikas
Design and test technology for dependable systems-on-chip
ilmumiskoht
Hershey
kirjastus/väljaandja
Information Science Reference
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 476-493 : ill
ISBN
978-1-60960-212-3
märkused
Bibliogr. p. 491-493
keel
inglise