Fast fault simulation for extended class of faults in scan-path circuits
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Devadze, Sergei
Raik, Jaan
Jutman, Artur
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Devadze, Jaan Raik, Artur Jutman
allikas
Proceedings : Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2010 : 13-15 January 2010, Ho Chi Minh City, Vietnam
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2010
leheküljed
p. 14-19
konverentsi nimetus, aeg
Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2010 : 13-15 January 2010
konverentsi toimumispaik
Ho Chi Minh City, Vietnam
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/5438717
märksõna
digitaalintegraallülitused
rikked
kompuutersimulatsioon
analüüs
ISBN
978-0-7695-3978-2
märkused
Bibliogr.: 42 ref
keel
inglise