Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs
autor
Jürimägi, Lembit
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Lembit Jürimägi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
Microprocessors and microsystems
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 77
ilmumisaasta
2020
leheküljed
art. 103117, 12 p
leitav
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117
märksõna
digitaaltehnika
diagnostika (tehnika)
rikked
testimine
elektronlülitused
võtmesõna
combinational circuits
signal probabilities
testability
fault redundancy
structurally synthesized BDDs
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 43 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/15552
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85086377299&origin=inward&txGid=f742e708555546cb12b9117a6e274d64
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=MICROPROCESS%20MICROSY&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000571530400009
kategooria (üld)
Computer science
Arvutiteadus
kategooria (alam)
Computer science. Computer networks and communications
Arvutiteadus. Arvutivõrgud ja side
Computer science. Hardware and architecture
Arvutiteadus. Riistvara ja arhitektuur
Computer science. Software
Arvutiteadus. Tarkvara
Computer science. Artificial intelligence
Arvutiteadus. Tehisintellekt
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus