kompaktne vaade prindi

Multiple-objective backtrace for solving test generation constraints

autor
Mekler, A.
Raik, Jaan
vastutusandmed
A.Mekler, J.Raik
allikas
International Symposium on System-on-Chip : November 19-21, 2003, Tampere, Finland : proceedings
ilmumiskoht
Tampere
ilmumisaasta
2003
leheküljed
p. 123-126 : ill
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/1267732
märksõna
elektriahelad
rikked
testimine
Boole'i funktsioonid
järjendanalüüs
ISBN
0-7803-8160-2
märkused
Bibliogr.: 9 ref
keel
inglise
Mekler, A., Raik, J. Multiple-objective backtrace for solving test generation constraints // International Symposium on System-on-Chip : November 19-21, 2003, Tampere, Finland : proceedings. Tampere, 2003. p. 123-126 : ill. https://ieeexplore.ieee.org/document/1267732